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中华人民共和国行业标准备案公告 2015年第12号
2016-01-28
国家标准化管理委员会依法备案行业标准318项,现予以公告(见附件)。
国家标准委
2016年1月14日
标准号
标准名称
代替标准号
批准日期
实施日期
SJ/T 11561-2015
软件构件运行环境规范
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 11548.1-2015
信息技术 社会服务管理 三维数字社会服务管理系统技术规范 第1部分:总则
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 11560-2015
声频功率放大器能效限值及能效等级 专业用D类
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 11435-2015
信息技术服务 服务管理 技术要求
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.13-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
SJ/T 2658.13-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.12-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.12-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.11-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
SJ/T 2658.11-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.10-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
SJ/T 2658.10-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.9-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
SJ/T 2658.9-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.8-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
SJ/T 2658.8-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.7-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
SJ/T 2658.7-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.6-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
SJ/T 2658.6-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.5-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
SJ/T 2658.5-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.4-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
SJ/T 2658.4-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.3-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
SJ/T 2658.3-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.2-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
SJ/T 2658.2-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2658.1-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.1-1986
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 2089-2015
电子测量仪器型号命名方法
SJ/T 2089-2001
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 11558.5-2015
LED驱动电源 第5部分:测试方法
2015-10-10
2016-04-01
SJ/T 11557-2015
低压复合式开关总规范
2015-10-10
2016-04-01
共318条
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