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公告
中华人民共和国国家标准公告 2018年第4号
2018-03-15
关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告 国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准,现予以公布(见附件)。 国家质检总局 国家标准委 2018-03-15 来源:http://std.sacinfo.org.cn/gnoc/queryInfo?id=7D4595B196DD07AAA1232D26804119FD
标准号
标准名称
代替标准号
批准日期
实施日期
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.5-2018
半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.4-2018
半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.2-2018
半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35003-2018
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35002-2018
微波电路 频率源测试方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 35001-2018
微波电路 噪声源测试方法
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
GB/T 14028-1992
2018-03-15
2018-08-01
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
GB/T 4377-1996
2018-03-15
2018-08-01
共20条
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