DB13/T 6033-2024 半导体器件低浓度氢效应试验方法 信息反馈
中国标准分类号： L40 (半导体分立器件综合) 信息反馈
国际标准分类号： 31.080 (半导体分立器件) 信息反馈
适用范围： 本文件描述了半导体器件低浓度氢效应试验的试验方法。本文件适用于氢气氛浓度不超过2%的半导体器件氢效应试验。其他氢气氛浓度可参照使用,当有相应的国家标准或行业标准时,以国家标准和行业标准规定为准。 信息反馈
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