2021年6月9日，中国电子工业标准化技术协会组织人工智能芯片领域专家在北京万寿宾馆对《人工智能芯片 计算机视觉训练用云侧深度学习芯片测试指标与测试方法》等两项团体标准项目进行立项论证。本次立项论证会专家组由工业和信息化部科技司原巡视员韩俊、中国科学院信息工程研究所研究员朱子元、北京计算机技术及应用研究所研究员孙大东等3位专家组成，韩俊任专家组组长。

该两项标准由上海商汤科技开发有限公司、中国电子技术标准化研究院、上海阵量智能科技有限公司、清华大学、上海交通大学和中科寒武纪科技股份有限公司等单位共同制定，出席本次会议的标准编制组由上海商汤科技开发有限公司和中国电子技术标准化研究院的专家代表组成。电子标准院宋博伟和上海商汤科技开发有限公司张行程等标准编制组代表就标准主要内容、编制工作过程、征求意见情况及后续工作规划等内容向专家组进行汇报。

与会专家从标准技术细节准确性、标准制定内容完备性和标准用语规范性等方面进行了细致审查。经质询与讨论，专家组一致认为该两项标准对计算机视觉用云侧深度学习芯片的测试与评估具有重要意义、对相关产品的设计和采购具有指导作用，审议决定后该两项标准通过立项。